Actualidad

El pasado 11 de septiembre de 2015, la Comisión publicó en la serie C del Diario Oficial de la UE, la comunicación sobre la nueva norma armonizada EN 45501 en el marco de la aplicación de la Directiva 2009/23/CE del Parlamento Europeo y del Consejo relativa a los instrumentos de pesaje de funcionamiento no automático (versión codificada). Entrará en vigor el 19 de abril del 2016 junto con la entrada en vigor de las diferentes transposiciones nacionales de la Directiva anteriormente señalada.

El pasado 24 de junio, D. Fernando Ferrer Margalef, director del Centro Español de Metrología, recogió en nombre de este organismo el premio  de la Sociedad de Ingeniería de Fabricación (SIF) en su edición de 2015.

Se ha publicado el Informe Anual de Actividades de la División científica y Relaciones Institucionales correspondiente al año 2014.

El mismo se puede consultar en el siguiente enlace.

El Prof. Leonardo Villena Pardo, Investigador del Instituto de Óptica del CSIC, impulsor de la Metrología y la Calidad en España, miembro durante 30 años del Comité Consultivo de Unidades (CCU) del CIPM y de múltiples sociedades científicas y culturales, ha fallecido en Madrid el pasado 7 de julio, a la edad de 98 años.

Es una pesada obligación comunicar que el Prof. Leonardo Villena, miembro del CCU desde 1968 hasta 1998, nos ha dejado el pasado 7 de Julio de 2015, a la longeva edad de 98 años.

La 2 de RTVE ha emitido recientemente el décimoséptimo y último capítulo de la serie realizada por la UNED ¿Qué sabemos de... Nanotecnología?, una ciencia que investiga en el mundo de lo diminuto, y que está generando grandes expectativas, debido a su reciente y futura aplicación en ámbitos tan diversos como la industria, la electrónica, los transportes o la sanidad. Sin duda, una nueva revolución industrial, con grandes implicaciones sociales.

El CEM ha participado en la Jornada “Nanotecnología y Alimentación”, organizada por la AECOSAN (Agencia Española de Consumo, Seguridad Alimentaria y Nutrición), con la presentación “metrología y nanotecnología”, a cargo del Dr. Emilio Prieto, Jefe del Área de Longitud del CEM y Presidente del Grupo GET15 de normalización en nanotecnologías, de AENOR.

El enlace de más adelante permite acceder al programa de la jornada y al contenido de las ponencias presentadas.

El 9 de junio de 2015, se ha celebrado en el Salón de Actos del Centro Español de Metrología el 6º  Seminario Inter-Congresos bajo una temática alineada con el Año Internacional de la Luz:  “Tecnologías ópticas en la metrología”.

El 6º seminario ha buscado ilustrar cómo las tecnologías ópticas inciden en las mediciones y a su vez cómo la metrología es relevante para el desarrollo de estas, contribuyendo así a cumplir uno de los objetivos de este año internacional.

“Siete mil millones de sueños. Un solo planeta. Consume con moderación” ha sido el lema elegido este año para conmemorar el Día Mundial del Medio Ambiente 2015. Una iniciativa global de las Naciones Unidas que comenzó en el año 1972 y que utiliza para fomentar la sensibilización mundial, promover la atención y motivar la acción política sobre el cuidado del medio ambiente.Actualmente se ha convertido en una plataforma mundial que se celebra en más de 100 países.

El  pasado 20 de mayo de 2015, se celebro el día Mundial de la Metrología  y  para conmemorar este día tan señalado el Centro Español de Metrología (CEM), y el Comité de Metrología de la Asociación Española para la Calidad (AEC), con la colaboración de las entidades SERVINCAL y RENISHAW IBÉRICA, organizaron  una jornada gratuita de difusión de la metrología, bajo el título:

“La METROLOGIA  y la Luz en la Industria”