Día Mundial de la Metrología JORNADA: “La METROLOGÍA y la Luz en la Industria”

El  pasado 20 de mayo de 2015, se celebro el día Mundial de la Metrología  y  para conmemorar este día tan señalado el Centro Español de Metrología (CEM), y el Comité de Metrología de la Asociación Española para la Calidad (AEC), con la colaboración de las entidades SERVINCAL y RENISHAW IBÉRICA, organizaron  una jornada gratuita de difusión de la metrología, bajo el título:

“La METROLOGIA  y la Luz en la Industria”

La jornada tuvo una audiencia y seguimiento notable, en donde los asistentes pudieron  visitar algunos laboratorios del CEM y posteriormente asistir a una serie de ponencias de destacados expertos, relacionadas con la temática.

Las presentaciones han sido cedidas por los ponentes y pueden descargarse libremente en esta página.

Espectros de acción y curvas de eficiencia. ¿Hacia nuevas unidades? Dña. Alicia Pons Aglio. Instituto de Óptica "Daza de Valdés" - CSIC.

Sistemas para la colimación de haces de luz. D. Luis Miguel Sánchez Brea. Departamento de Óptica de la Facultad de CC Físicas de la UCM.

La ruta de la trazabilidad metrológica. D. José Luis Borrego Nadal. Entidad Nacional de Acreditación (ENAC).

Caracterización de patrones 2D por interferometría diferencial en el CEM.

Dña Mª Mar Pérez Hernández - Responsable Lab. Primario de Longitud, CEM.

D. Eloy Pérez-Enciso - Tritón Sistemas Experimentales, S.L.